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現(xiàn)有分離的:平面A 和 平面B,距離dis=200mm- f, Q& c& h9 p' n n# N9 k- X9 l1 C
平面A上有target點(diǎn) X,平面B上有target 點(diǎn)Y
, p/ R* u! B* U, _1 q6 V1 D- oX點(diǎn)固定,Y點(diǎn)可在平面B上移動(dòng)。: ?: W8 k- m& P$ s
* I, `& N) ?& P6 j5 a移動(dòng)Y點(diǎn),如何得知Y點(diǎn),是否 與X點(diǎn),同軸?(即共線于 X點(diǎn)為原點(diǎn)的平面A的法線上)' B) h! {- `9 _) n- f
同軸的精度要求,<0.1mm
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我的考慮:5 Q' v8 t& c& N6 Q0 W4 X$ W( ^, e @, e
1.鐳射——落于平面A,leveling調(diào)整后,鐳射打出一根雙通的,垂直于平面A的“法線”。
! L/ ]7 S g5 ^8 Q3 f" m2.做治具,車一根200mm長(zhǎng)的圓柱軸,精加工IT7級(jí),兩端同軸查表能<50um
' n5 L1 ^2 p q7 X1 w0 j: q上述兩個(gè)方法的各自缺點(diǎn):$ y4 Q) f/ n! Q3 _- x
1.鐳射本身的垂直度——查了幾家的鐳射儀,參數(shù)里沒看到 鐳射自身光線,相對(duì)leveling調(diào)整后平面的垂直度,不知道出廠有沒有此保證值。
: u* T/ m- a; V! p" p8 H/ p1 m2.鐳射激光光斑大小——如果是肉眼看,最小的光斑也要mm為單位吧,光斑的中心還只能目測(cè)。
; m4 }3 G# `4 _- k9 ~ @! n3.治具的方法——平面A B上如果都是孔,治具還能用。但是針對(duì)A/B平面的target都是點(diǎn),則治具……4 Z( X* f) t: C5 d: N& S
在治具中心點(diǎn)一個(gè)point? 或者是治具一端車成尖頭? 但是這個(gè)又涉及到 點(diǎn)、尖頭的直徑問題。
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2 B0 ^6 H5 p. b _1 l8 J肉眼不可靠,考慮用相機(jī)、鐳射接收器?但是這兩者都需要放置于法線路徑上,都會(huì)擋住任意一個(gè)點(diǎn)…1 P- ~) e5 P# ^1 W5 C
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求教大家,有沒有更好的辦法?
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