求解形位公差的檢測(cè)方法

dyq711

在測(cè)量某一形位公差時(shí)，往往會(huì)收到另一形位公差的干擾，比如，在測(cè)兩個(gè)圓孔的軸線(xiàn)垂直度的時(shí)候，會(huì)受到兩個(gè)圓孔的同軸度的影響，這樣雖然能得到垂直度，但是垂直度里面有同軸度的影響，得到的垂直度不是很可信，那應(yīng)該怎么正確的測(cè)量一個(gè)受到干擾的形位公差，還有有沒(méi)有這樣一種理論，就是兩個(gè)形位公差相互干擾時(shí)，測(cè)得一個(gè)值，通過(guò)這個(gè)值的概率分布，可以得到這個(gè)值是同時(shí)滿(mǎn)足兩個(gè)形位公差。小弟愚昧，不知道這個(gè)問(wèn)題提的對(duì)不對(duì)。
小弟剛工作，還需要學(xué)習(xí)的很多，謝謝給位前輩的支點(diǎn)

成歌2047

兩條圓孔軸線(xiàn)的垂直度，應(yīng)該是沒(méi)法測(cè)量的吧？孔軸線(xiàn)的垂直度一般是標(biāo)注對(duì)平面的垂直度。

未來(lái)第一站

1.尺寸，形位公差原則的第一條就是獨(dú)立原則
% U% Q" i# h# d6 r9 ~: w/ L2.上學(xué)時(shí)的書(shū)沒(méi)丟，好好看看 《互換性與測(cè)量技術(shù)基礎(chǔ)》